工業(yè)行業(yè)快速雙能光子計(jì)數(shù)探測(cè)器

TDI系列探測(cè)器特別適合需要高速、有時(shí)需要雙能功能的線掃應(yīng)用。高速掃描狀態(tài)下，該技術(shù)保證了高分辨率、具備區(qū)分被測(cè)樣品中不同物質(zhì)的能力。

靈敏度高、實(shí)現(xiàn)高速線掃。探測(cè)器充分利用采集到線管功率要求。可靠的碲化鎘（CdTe) 耐輻射能力的X射線，可生成高質(zhì)量的圖像。同時(shí)降低了對(duì)X射延長(zhǎng)了探測(cè)器使用壽命。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 雙能成像實(shí)現(xiàn)物質(zhì)區(qū)分

• 能量選擇范圍大

• 檢測(cè)速度高

• X射線源功率要求低

• 圖像分辨率高

• 零噪聲讀取

• 低劑量

• 探測(cè)器使用壽命長(zhǎng)

傳感器

技術(shù)                            雙能光子計(jì)數(shù)

模式                            TDI雙能高速

                                   TDI單能高速

                                   TDI能譜

轉(zhuǎn)換介質(zhì)                      碲化鎘 (CdTe)

像素                             100 μm

像素填充                      100%

像素間隙                      100 μm

計(jì)數(shù)率

高速模式                       200 Mcnts / s / mm²

能譜模式                       20 Mcnts / s / mm²

AD位數(shù)最高                  18比特/幀

有效面積                        見(jiàn)產(chǎn)品范圍

成像速度                        見(jiàn)產(chǎn)品范圍

溫度控制                        PWM效熱電控制風(fēng)扇

成像質(zhì)量                         高速     能譜

MTF@1.0lp/mm             95%     90%

MTF@2.5lp/mm             70%     70%

MTF@4.0lp/mm             50%     60%

DQE@1.0lp/mm             70%     75%

DQE@2.5lp/mm             55%     55%

DQE@4.0l /mm              40%     35%

滯后                        0 %(X射線累計(jì) 6 μGy)

偽影                        < 0.1 %(射線開(kāi)啟1分鐘 累計(jì)6 μGy后)